成分含量

同步辐射(SAXS/WAXS)

满意度:99%

同步辐射小角X射线散射(SAXS)是一种用于研究纳米尺度物质结构的重要技术。它通过测量X射线在样品上的散射图案,分析样品内部电子密度的不均匀性,从而获得材料的微观结构信息。SAXS技术特别适用于分析尺寸在1至200纳米范围内的电子密度波动,如聚合物、胶体、纳米颗粒和多孔材料等 。

预约次数:
2 次
服务周期:
4-6个工作日

预约须知

  1. 1粉末样品50mg,能平铺成3*3mm面积即可;
  2. 2块体/薄膜样品,尺寸3-100mm,厚度0.5mm最佳;
  3. 3液体样品0.5ml以上;
  4. 4测试范围:SAXS: 0.05-1 nm-1,WAXS2 - 40°;若未知请提供相关参考文献,如需变温测试请提前沟通;
  5. 5由于机时有限,请联系前期对接的技术顾问;

以上为通用要求,特殊样品请在预约备注里说明,工程师会逐一确认。

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原位同步辐射(XAFS)

同步辐射吸收谱(XAFS)是一种强大的材料表征技术,它通过测量X射线与物质相互作用后的吸光度变化,来获取材料的电子结构和局域配位环境信息。XAFS可以分为三个主要部分: 边前区(Pre-edge):通常与元素的价态和电子结构有关,可以提供有关样品中元素的价态信息 。 近边区(XANES):反映了样品原子内层电子的激发和弛豫过程,通过分析XANES区可以了解原子的电子结构、价态、对称性等信息 。 扩展边(EXAFS):提供了原子周围配位原子的信息,包括配位原子种类、键长、配位数和无序度等 。 XAFS技术的优势在于: 1. 不依赖于样品的长程有序性,适用于非晶态和无序材料的研究 。 2. 具有元素选择性,能够区分同一样品中不同元素的局域结构 。 3. 可以对固体、液体、气体等不同状态的样品进行分析 。 4. 无损检测,可以进行原位测试,观察材料在实际工作条件下的行为 。 XAFS在材料科学、化学、环境科学、生物医学等领域有广泛应用,它可以用于研究催化剂的活性位点、材料的电子结构、污染物的形态和分布等 。随着同步辐射光源技术的发展,XAFS的实验方法和数据处理技术也在不断进步,为科学研究提供了更加深入和全面的认识 。

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