适用场景
晶粒取向与织构表征
相分布与相变分析
应变与几何必需位错统计
核心能力 · 设备亮点
高标定率
Oxford / Bruker 系统，标定率 >95%。
织构输出
极图、ODF、取向差统计齐全。
同区叠加
SEM 形貌与取向同位叠加。
典型参数
设备Oxford / Bruker EBSD
步长0.1–5 μm 可调
面扫最大 2×2 mm
样品要求
- 表面镜面、无应力（建议氩离子抛光）
- 导电样品或喷金
- 注明关注区域尺度
交付标准
- 取向 / 织构数据
- 相分布图
- 应变分布图
服务流程
- 1
提交需求 · 在线下单
- 2
方案确认 · 顾问对接
- 3
样品寄送 · 协议随附
- 4
实验测试 · 实时跟进
- 5
数据交付 · 三重提醒
- 6
财务结算 · 申请开票