成分含量
原位同步辐射(XAFS)
满意度：99%
同步辐射吸收谱（XAFS）是一种强大的材料表征技术，它通过测量X射线与物质相互作用后的吸光度变化，来获取材料的电子结构和局域配位环境信息。XAFS可以分为三个主要部分： 边前区（Pre-edge）：通常与元素的价态和电子结构有关，可以提供有关样品中元素的价态信息 。 近边区（XANES）：反映了样品原子内层电子的激发和弛豫过程，通过分析XANES区可以了解原子的电子结构、价态、对称性等信息 。 扩展边（EXAFS）：提供了原子周围配位原子的信息，包括配位原子种类、键长、配位数和无序度等 。 XAFS技术的优势在于： 1. 不依赖于样品的长程有序性，适用于非晶态和无序材料的研究 。 2. 具有元素选择性，能够区分同一样品中不同元素的局域结构 。 3. 可以对固体、液体、气体等不同状态的样品进行分析 。 4. 无损检测，可以进行原位测试，观察材料在实际工作条件下的行为 。 XAFS在材料科学、化学、环境科学、生物医学等领域有广泛应用，它可以用于研究催化剂的活性位点、材料的电子结构、污染物的形态和分布等 。随着同步辐射光源技术的发展，XAFS的实验方法和数据处理技术也在不断进步，为科学研究提供了更加深入和全面的认识 。
- 预约次数：
- 2 次
- 服务周期：
- 4-6个工作日
预约须知
- 1样品量要求：粉末：200mg（含量高的可以少一些，研磨到400目以下，无明显颗粒感）；块体：尺寸10*10mm，厚度建议微米级较好，否则需要用荧光模式；液体：5ml以上；
- 2样品若易氧化/吸水变质，请提前告知；
- 3需明确原位条件，提供原位测试方案，并说明预期结果；
- 4样品如需回收请务必贴回收贴，本项目不提供测试后的样品回收，一般只能回收未测试的样品；
- 5如有测试疑问，请联系前期对接的技术顾问；
以上为通用要求，特殊样品请在预约备注里说明，工程师会逐一确认。
