晶体学与取向

同轴 TKD

10nm 分辨率的取向定量

同轴 TKD(tKD)在 SEM 中实现空间分辨率达 10 nm 的晶体学取向定量,突破传统 EBSD 检测极限。

适用场景

纳米晶 / 细晶取向表征
纳米析出相的取向关系
极小区域织构分析

核心能力 · 设备亮点

10nm 分辨

取向空间分辨率较 EBSD 提升一个量级。

取向关系

纳米相与基体的取向关系标定。

同机联用

与 SEM / EDS 同区位分析。

典型参数

分辨率≈ 10 nm
原理透射 Kikuchi 衍射
适用纳米晶 / 薄膜

样品要求

  • 超薄样品(可透射背散射电子)
  • 表面平整、低应力
  • 注明目标纳米结构

交付标准

  • TKD 取向图
  • 纳米相取向关系
  • 统计报告

服务流程

  1. 1

    提交需求 · 在线下单

  2. 2

    方案确认 · 顾问对接

  3. 3

    样品寄送 · 协议随附

  4. 4

    实验测试 · 实时跟进

  5. 5

    数据交付 · 三重提醒

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    财务结算 · 申请开票