适用场景
单晶取向测定
多晶织构与 ODF 分析
取向差与晶界特征统计
核心能力 · 设备亮点
取向标定
高精度晶粒取向定量。
织构分析
极图 / ODF 全表征。
界面统计
取向差与晶界类型分布。
典型参数
方法EBSD / XRD
步长0.1–5 μm
输出取向 / 织构
样品要求
- 表面需平整去应力（镜面）
- 注明晶体结构与空间群
- 提供测试区域尺寸
交付标准
- 取向数据
- 极图 / ODF
- 界面统计表
服务流程
- 1
提交需求 · 在线下单
- 2
方案确认 · 顾问对接
- 3
样品寄送 · 协议随附
- 4
实验测试 · 实时跟进
- 5
数据交付 · 三重提醒
- 6
财务结算 · 申请开票