服务介绍
基于密度泛函理论计算材料的能带结构与态密度，判断体系金属性/半导体性、带隙大小与费米面附近电子态特征。支持 PBE 与 HSE06 杂化泛函、DFT+U 强关联修正；高对称路径自动生成（Seek-path），输出可发表于 SCI 论文的出版级图表与全部原始数据（CHGCAR、EIGENVAL、DOSCAR），数据全程可溯源、可复核。
交付流程
01
需求确认
提交体系信息与研究目的
02
方案报价
工程师给方案与报价单
03
计算执行
建模、收敛测试与计算
04
数据交付
图表 + 原始数据 + 解读
先测后付
完善档案即激活授信额度
数据可溯源
输入输出文件全程可复核
保密承诺
支持签署保密协议